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國立清華大學 動力機械工程學系 王偉中所指導 許軒豪的 背光模組熱濕變形之數值分析與實驗探討 (2006),提出ccd相機ptt關鍵因素是什麼,來自於相位移式陰影雲紋法、背光模組、熱濕負載、面外位移、von Mises應力。

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接下來讓我們看這些論文和書籍都說些什麼吧:

除了ccd相機ptt,大家也想知道這些:

背光模組熱濕變形之數值分析與實驗探討

為了解決ccd相機ptt的問題,作者許軒豪 這樣論述:

摘要 本研究主要是利用相位移式陰影雲紋法(Phase Shifting Shadow Moiré Method)探討背光模組承受熱濕負載之全場平面外位移,背光模組的邊界條件假設為四邊固定,並經由恆溫恆濕爐施予背光模組熱濕負載。本研究亦利用商用有限單元法套裝軟體ANSYS進行平板熱變形之數值模擬,將數值與實驗兩種結果交互驗證,同時針對驗證結果以修正ANSYS數值模擬之參數。最後,利用已修正之ANSYS參數條件,探討背光模組試片受熱負載之應力分布現象,並以von Mises應力做為判斷材料破壞之準則。關鍵字:相位移式陰影雲紋法、背光模組、熱濕負載、面外位移、von Mises應力